SJ/T 11769-2020 电子元器件低频噪声参数测试方法 通用要求

billylauwh

本标准规定了电子元器件1Hz～300kHz频率范围内的噪声参数测试方法和相应的测试系统的通用要求。
标准编号：SJ/T 11769-2020
标准名称：电子元器件低频噪声参数测试方法 通用要求
英文名称：General requirements for low-frequency noise parameters measurement method of electronic components and devices
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
发布日期：2020-12-09
实施日期：2021-04-01
标准状态：现行
起草单位：工业和信息化部电子第五研究所、中国运载火箭技术研究院、西安电子科技大学、中国电子技术标准化研究院、苏州半导体总厂有限公司、深圳市量为科技有限公司、中国空问技术研究院、中国电力科学研究院
文件格式：PDF
文件页数：13页
文件大小：4.85MB

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2023-1-31 08:49 上传

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