标准编号：YB/T 4590-2017
标准名称：硅材料用高纯石墨制品中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法
英文名称：Determination of multi-element contents in high purity graphite used for silicon material-Inductively coupled plasma atomic emission spectrographic method
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
发布日期：2017-04-12
实施日期：2017-10-01
标准状态：现行
文件格式：PDF
站内资源均来自网友分享或网络收集整理，若无意中侵犯到您的权利，敬请联系我们，我们将及时删除相关资源。