标准编号:BS EN 60749-8-2003
标准名称:半导体器件 机械和气候试验方法 密封
英文名称:Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Sealing
发布部门:
发布日期:2003-07-03
实施日期:2003-07-03
标准状态:现行
文件格式:PDF
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标准名称:半导体器件 机械和气候试验方法 密封
英文名称:Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Sealing
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实施日期:2003-07-03
标准状态:现行
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