SJ/T 11706-2018 半导体集成电路现场可编程门阵列测试方法

哈瓜 · 发表于 2023-1-9 20:29:05

本标准规定了SRAM型现场可编程门阵列（Field Programmable Gate Array，以下简称FPGA）的电参数测试方法。
标准编号：SJ/T 11706-2018
标准名称：半导体集成电路现场可编程门阵列测试方法
英文名称：Semiconductor integrated circuits test methodof field programmable gate array
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
发布日期：2018-02-09
实施日期：2018-04-01
标准状态：现行
起草单位：中国电子技术标准化研究院、上海复旦微电子集团股份有限公司、中国科学院电子技术研究所、中国电子科技集团公司第47研究所、中国电子科技集团公司第58研究所、中国航天科技集团公司第九研究院第772研究所、深圳国微电子有限公司、成都华微电子科技有限公司、复旦大学、成都振芯科技股份有限公司、中国航天科技集团公司
文件格式：PDF
文件页数：30页
文件大小：5.62MB

标准全文下载：

SJT 11706-2018.pdf (5.62 MB)

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SJ/T 11706-2018 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法

SJ/T 11706-2018 半导体集成电路现场可编程门阵列测试方法